?SuperViewW系列白光干涉3d表面形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
國內(nèi)自研高分辨率掃描電鏡CEM3000系列采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對真空度要求不高,使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測效率。
CEM3000系列臺式鎢燈絲掃描電鏡在工業(yè)領域展現(xiàn)出廣泛的應用價值,標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
NS系列探針式薄膜厚度臺階儀通過2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協(xié)同工作,結合亞埃級分辨率(5 Å)與智能化分析軟件,可精準測量臺階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。
CEM3000系列納米級成像高分辨掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片,無需過多人工調(diào)節(jié)。超高分辨率優(yōu)于4nm(SE),優(yōu)于8nm(BSE)@20kV,超大景深毫米級別景深,具有高空間分辨率。
CEM3000系列高倍成像臺式掃描電鏡操作系統(tǒng)簡便,使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入,自動導航和一鍵出圖能力(自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息
微信掃一掃