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        • WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何量測(cè)設(shè)備

          中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何量測(cè)設(shè)備可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測(cè)。通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

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          產(chǎn)品價(jià)格:面議
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-09
        • WD4000晶圓形貌測(cè)量?jī)x器

          中圖儀器WD4000晶圓形貌測(cè)量?jī)x器通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。可兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。

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          產(chǎn)品價(jià)格:面議
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-09
        • WD4000晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)

          WD4000系列晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù)。

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          產(chǎn)品價(jià)格:面議
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-09
        • WD4000晶圓三維形貌量測(cè)系統(tǒng)

          WD4000晶圓三維形貌量測(cè)系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于襯底制造 、 晶圓制造 、及封裝工藝檢測(cè) 、3C 電子玻璃 屏及其精密配件、光學(xué)加工 、顯示面板 、MEMS 器件等超精密加工行業(yè) ??蓽y(cè)各類包括從光滑到粗糙 、低 反射率到高反射率的物體表面, 從納米到微米級(jí)別工件的厚度 、粗糙度 、平整度 、微觀幾何輪廓 、曲率等。

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          產(chǎn)品價(jià)格:面議
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          更新日期:2025-03-09
        • WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)

          WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

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          更新日期:2025-03-09
        • WD4000晶圓形貌量測(cè)設(shè)備

          WD4000晶圓形貌量測(cè)設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù)。

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          更新日期:2025-03-09
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