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        • SuperViewW1光學(xué)輪廓儀測(cè)表面粗糙度的儀器

          SuperViewW1光學(xué)輪廓儀測(cè)表面粗糙度的儀器具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),可對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

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          產(chǎn)品價(jià)格:960000
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-08
        • SuperViewW1三維光學(xué)3D表面輪廓儀

          SuperViewW1三維光學(xué)3D表面輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是基于白光干涉原理研制而成,采用擴(kuò)展型的相移算法EPSI,集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn),單一模式即可適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類型,讓3D測(cè)量變得簡(jiǎn)單。

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          產(chǎn)品價(jià)格:960000
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-08
        • SuperViewW1chotest光學(xué)輪廓儀

          chotest光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,除主要用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外,具有的測(cè)量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。

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          產(chǎn)品價(jià)格:960000
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-08
        • SuperViewW1W1光學(xué)3D輪廓儀

          W1光學(xué)3D輪廓儀利用光學(xué)干涉原理,測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測(cè)。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

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          產(chǎn)品價(jià)格:960000
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-08
        • SuperViewW1光學(xué)材料表面形貌測(cè)試儀

          SuperViewW1光學(xué)材料表面形貌測(cè)試儀以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等等領(lǐng)域。是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。

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          產(chǎn)品價(jià)格:960000
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-08
        • SuperView W1光學(xué)形貌輪廓儀

          SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣,是一款利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器。測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測(cè)。其特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

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          產(chǎn)品價(jià)格:960000
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-03-08
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